電解電容器技術(shù)

1、一、 電容器的定義1、電容器由兩個導(dǎo)電極板，中間放置著具有介電特征的物質(zhì)所組成的分立元件。2、電解電容器兩個極板有陽（正）極和陰（負(fù)）極之分，其中作為陽極的是采用特定的閥金屬，并在該金屬表面上籍助于電化學(xué)方法生成一極薄且具有單向?qū)щ娦缘难趸ぷ鳛榻橘|(zhì)，而陰極通常是采用能生成和修復(fù)介質(zhì)氧化膜的液狀或固狀的電解質(zhì)，這樣一種特殊結(jié)構(gòu)和特殊工藝制造的電容器。二、 電氣參數(shù)鋁電解電容器常用標(biāo)稱：電容量（CR）、損耗角正切（tg）、漏電流（ILC）、額定工作電壓（UR）、阻抗（Z）1、電容量：是指在電容器上標(biāo)明的電容量值，是設(shè)計容量的名義值。CrUcUrUCrIrUrCrUcCrUCrI1CrUCUR I

2、r2、損耗角正切：用于脈動電路中的鋁電解電容器，實際上要消耗一小部分有功的電功率，這可用損耗角正切來表征，它是電容器電能量損耗的有功功率與無功功率之比。對于電解電容較常采用串聯(lián)等效電路，如圖1-1所示，則其損耗角正切tg為： tg= = =Crr I 圖1-1 等效串聯(lián)電路和電流電壓矢量圖 3、漏電流漏電流：當(dāng)對電容器施加直流電壓時，將觀察到充電電流的變化：開始很大，然后逐漸隨時間而下降，但并不等于零，而是達(dá)到某一終值后，趨于穩(wěn)定狀態(tài)，這一終值稱為漏電流。漏電流ILC 是電解電容器五大電參數(shù)之一，用來表征電解電容器的絕緣質(zhì)量。與施加電壓的大小、環(huán)境溫度的高低和測試時間的長短都有密切關(guān)系，故在規(guī)

3、定漏電流值時必須標(biāo)明其測試時間“t”、施加電壓“U”和環(huán)境溫度“T”的大小。ILC 與測試時間（即施加電壓時間）、施加電壓大小和環(huán)境溫度之間的關(guān)系如圖1-2所示。T1T2T1T2ILCtILCU2U1U1U2t 圖1-2 電解電容器的漏電流與測試時間、施加電壓和環(huán)境溫度的關(guān)系對于鋁電解電容器，漏電流通常用下式表示： ILC=KCU+M µA式中：C電容器的標(biāo)稱電容量（µF）；U額定工作電壓（V）；K，M常數(shù)。其中K值，稱之為漏電流常數(shù)。對于不同類型的電解電容器具有不同值，如CD11型產(chǎn)品，K=0.03； CD110型產(chǎn)品，K=0.01；低漏電流產(chǎn)品，K=0.0010.002

4、。對于M值，除了主要考慮氧化膜本身漏電流外，還應(yīng)考慮到電容器表面漏導(dǎo)電流的影響。M值主要取決于產(chǎn)品結(jié)構(gòu)和CU值的大小。CU值較小者，其表面漏導(dǎo)電流影響較大，M值也相應(yīng)附加較大值；CU值較大者，表面漏導(dǎo)電流影響就較小，M值可以忽略不計。所以M值可以在020范圍內(nèi)取值。4、額定工作電壓（UR） 指在下限類別溫度和額定溫度之間的任一溫度下，可以連續(xù)施加在電容器的最大直流電壓或最大交流電壓有效值或脈沖電壓的峰值。5、阻抗（Z） 【將由下一節(jié)解釋】三、 主要電氣參數(shù)分析1阻抗、電容量、損耗角正切和等效串聯(lián)電阻的關(guān)系rABCL對電解電容器來說，通常用是容量C、損耗角正切tg和、阻抗Z或等效串聯(lián)電阻ESR來

5、描述在脈動電路中的電氣特性。一般電解電容器的電感量L不太大，不會超過100nH（納亨），電解電容器的等效電路圖1-3所示。 圖1-3 電解電容器的等效電路該電路中AB兩端的復(fù)阻抗為：C11jCZ= r+jL+ = r-j -L 阻抗模量為：C1C1C1 Z=r2+ -L 2 =r2+（XC- XL）2 = （rC）2 +（1-2LC）2 = tg2+（1-2LC）2C1當(dāng)L很小時，2LC<<1，則： Z= 1+ tg2因此，電容器的阻抗將隨著損耗角正切的增加而增大。這意味著在同一電壓下,阻抗大者容許通過的交流電流要小一些,換言之,即由于電容器有損耗,所以在電路中它的電容量相應(yīng)地有所

6、減小,不是測試出來的C值,而是 的有效電容量:C效=C/tg2+(1-2LC)2當(dāng)2LC1C效=C/1+ tg2而C效不能直接由測量儀測出,只能從Z或從施加的電壓和通過的電流值計算:C1Z= =U/I.顯然,電容的阻抗值,概括了各種影響因素既能所映電容本身在電路中真正作用,又能根據(jù)它的溫度頻率特性的好壞,從中分析電容器的工藝及結(jié)構(gòu)是否合理,例如,低溫時阻抗增大很多,從而工藝上分析原因,頻率升高時,阻抗值下降遲緩,也如要從工藝上找原因.由電解電容器串聯(lián)等效電路得知： tg=Cr 式中損耗電阻r 是由三部分組成的： a、氧化膜介質(zhì)損耗的等效串聯(lián)電阻r介；b、代表工作電解液的等效串聯(lián)電阻r液；c、代

7、表金屬電極、引出線（片）以及接觸電阻等組成的r金 。即： r=r介+r液+r金Ctgr被稱為等效串聯(lián)電阻，英文縮寫為ESR（equivalent series resistance）。故： ESR = 2溫度頻率特性電解電容器的主要電氣能數(shù)C、tg和Z與使用環(huán)境溫度、頻率有著極為密切的依賴關(guān)系。所謂溫度特性指電容器的C、tg和Z隨環(huán)境溫度變化的規(guī)律性，而頻率特性則描述電容器的C、tg和Z隨頻率變化的規(guī)律性。電容器的溫度頻率性不僅反映介質(zhì)微觀變化的內(nèi)在規(guī)律，而且還與電解液的性質(zhì)、電解紙的種類以及電容器的結(jié)構(gòu)等因素有關(guān)。當(dāng)然從使用角度來看，要求它隨溫度頻率的變化越小越好。21頻率特性2.1.1 C

8、、tgf關(guān)系在低頻段，構(gòu)成電容器的介質(zhì)，其偶極子極化能跟得上外加電場頻率的變化，這樣介質(zhì)極化率就大，其極化對容量的貢獻(xiàn)也就大，且損耗也?。辉诟哳l段，則與上述相反，隨著頻率的提高，介質(zhì)偶極子極化跟不上外加電場的變化，C就會下降，tg增加，這種變化關(guān)系如圖1-4所示。C Z f f 圖1-4 電容量與頻率曲線 圖1-5 阻抗與頻率曲線 Zf關(guān)系由于電解電容器固有電感的影響,使阻抗Z的頻率特性曲線存在 “U”形的特性,如圖1-5所示。從公式中可以看出（復(fù)阻抗），在低頻段容抗在阻抗中占主要地位，隨著頻率的增加，阻抗減小，當(dāng)阻抗達(dá)到某一最低值時，此頻率為諧振頻率。在高頻段，感抗影響占主要地位，電感是由電

9、流流過金屬電極、引線和金屬外殼時所形成的。下面列舉不同規(guī)格的鋁電解電容器16V470uF和250 V10uF、47uF、100uF，其阻抗頻率特性1-6所示。T/100HZ250V10uF250V47uF250V100uFZ/m-40-2502085Z/mf/Hz10000100010010101000100000100101-60-40-20020406080120100 （a）Zf （b）ZT 圖1-6典型鋁電解電容器的阻抗溫度頻率特性22溫度特性2.2.1 C、tgT關(guān)系 由于電解液是離子導(dǎo)電，離子導(dǎo)電能力都毫不例外地隨著溫度的增加而增加。在低溫時電解液趨于“冰凍”，其離子的遷移運(yùn)動受到

10、的阻力將大大增加，并隨著溫度的趨低而變大，最終導(dǎo)致r液，則C紙C+C紙CC紙= 1+ CC紙C紙Cr= tg將隨著r液 的增大而變大。同理，在高溫時，r液 變小，tg隨之減小，而CrC 。 鋁電解電容器tg溫度特性主要取決于工作電解液，特別是它的低溫電阻率大小，它的一般規(guī)律是：A.使用低溫特性好的工作電解液要比使用差的其tg溫度特性好,B.高額電壓的tg溫度特性比低壓的要好一些,C.電容量小的一般要比電容量大的tg溫度特性好,D.使用腐蝕系數(shù)小的鋁箔要比系數(shù)大的tg溫度特性好。鋁電解電容的tg要從三個方面考慮： A.電解紙的tg B.電解液的電導(dǎo)率C.正極箔的tg ZT關(guān)系從公式（阻抗模量）看

11、出，隨著溫度的提高，tg下降，C 也有些增加，但因 tg 急速下降，故阻抗Z 將隨著環(huán)境溫度的升高有較快速率下降，見圖1-6所示。23有關(guān)參數(shù)的影響 從等效電路來看，卷繞型箔式電容影響C和tg的主要參數(shù)是解和C紙以及陽極箔的表面狀態(tài)等，浸漬紙電阻（解）的計算，解是指以易浸潤的襯墊紙或其他多孔性纖維材料浸透了工作電解液后的電阻，也是稱為襯墊物電阻：ZAd紙解=液 （）電解液的電阻率浸漬后襯墊材料的電阻率其中：襯墊材料的滲透系數(shù)，與其多孔性結(jié)構(gòu)有關(guān)。 = （密度較小的電解紙，其損耗相對較?。?電解電容襯墊紙的=2535 液電解液的電阻率（·cm ）d紙襯墊材料的厚度（cm）A 陽極箔的外

12、觀幾何尺寸表面積可見，值越大，表明襯墊物滲透能力差，實驗表明，當(dāng)所用工作電解液在某一低溫下如發(fā)生微晶析出現(xiàn)象，將阻塞襯墊物的結(jié)構(gòu)空隙，從而使值顯著增加，所以值以與電解液的成分和使用溫度有關(guān)，在低溫大并不是一個常數(shù)，甚至?xí)黾訋妆?。含浸率的影?由于陽極箔腐蝕參數(shù)高，鋁箔表面的氧化膜是微孔結(jié)構(gòu)，且電解液是有一定粘性，較難完全浸入微孔之中，導(dǎo)致陽極箔實際的有效表面積比理論表面積小，因而實際電容量就偏低,且含浸率隨著陽極箔比容的增大和電解液粘度的增加而下降。3影響分析31工作電解液的影響d紙ZA 工作電解液的電阻率大小，對解起決定性作用，從解=液 可以得知；而且它還是一個變量，這才給電容器的C 和

13、tg的溫頻特性帶來關(guān)鍵的影響。據(jù)華爾頓定律，溶液的粘度和電導(dǎo)率的積為常數(shù)，當(dāng)?shù)蜏貢r，粘度上升，離子遷移率降低，所以電阻率增加，甚至在更低溫度，電解液還可以結(jié)晶。那么值將增大到不能容忍的程度，因此用粘度大一些的電解液浸漬襯墊物，其解 將比粘度較小的電解液大得多，這樣可知，粘度較小的工作電解液的電容器，是有相對較佳的C 和 tg的溫度特性。 我們希望電解液的電阻率和溫度的關(guān)系比較平坦，即希望低溫（-55）時，電解質(zhì)的的值不大于常溫時的10-20倍， 即 -55 / +2010-20最多不大于50倍。 32額定電壓的影響 當(dāng)標(biāo)稱電容量是一定時，如U額高，則必形成較厚的氧化膜。如此，在高額電壓下比低額

14、電壓要求有較大的陽極箔表面積。除了用腐蝕方法增大箔的有效面積外，另一辦法就是直接增大箔的幾何尺寸。但如從陽極箔的需要表面積增大來看，因為氧化膜厚度與形成電壓成正比，如保持C不變，當(dāng)U提高n倍時，陽極箔表面積也將增大n倍（假定形成電壓與額定電壓的比值相同）。如果額定電解液的液隨U額高低不同所起的影響不是如此顯著，低壓電容器的解比同C的高壓電容器大得多，所以前者的C 、 tg溫度和頻率特性要差一些。4.漏電流及抑制漏電流回升的對策4.1漏電流產(chǎn)生的根源鋁電解電容器的介質(zhì)膜是由電化學(xué)方法形成的Al2O3膜，因厚度極薄，易受原材料純度、制造工藝等因素的影響，故在介質(zhì)膜表面總是或多或少存在微小縫隙、雜質(zhì)

15、和疵點(diǎn)，同時在晶體結(jié)構(gòu)上易形成晶格缺陷。這樣，鋁電解電容器在施加電壓后，就在上述這些隱患處形成電子電流和離子電流，其中以電子電流為主。此外，應(yīng)考慮電容器表面漏導(dǎo)電流的影響，它與元件表面狀況(如表面的粗糙度、清潔度)及環(huán)境的溫濕度均有關(guān)。因此，漏電流是電解電容器極為重要的電氣參數(shù)之一，是衡量電解電容器品質(zhì)優(yōu)劣、制造工藝是否得當(dāng)和工藝衛(wèi)生文明生產(chǎn)的一個直接標(biāo)志。4.2 漏電流的表達(dá)式鋁電解電容器的漏電流從等效電路可知，它是氧化膜介質(zhì)的體積漏導(dǎo)電流IV和通過表面的漏導(dǎo)電流IS之和，如圖1-7所示,其表達(dá)式為： ILC=IV+IS UfKsOdS 體積漏導(dǎo)電流IV : 因介質(zhì)氧化膜的體積電阻RV :+

16、-IISIVURV= = UkSOUfUkSOUfURVIV = =0.714×107A圖1-7 電容器的漏電流示意圖式中: U施加電壓，V； k腐蝕系數(shù)； SO光箔幾何面積，cm2； 氧化膜電導(dǎo)率，(·cm)-1； 氧化膜電阻率， ·cm； Uf形成電壓，V； 形成常數(shù)，對于鋁陽極箔=1.4×107 cm/V。rS3.6d另一表達(dá)式:C =×10-6 FdSRV = 1.13×107r3.6×106rURVCUCRVIV = = ×CU = CU （A）1.13×1013r =CU （A）1.13

17、15;1013r=KCU （A） 令 K =假設(shè)鋁氧化膜r= 810， =10131014·cm，則K值約為0.010.1,此值正好在CD11型和CD110型鋁電解電容器K值的規(guī)定范圍內(nèi),則 IV(0.010.1)CU A 根據(jù)固體電介質(zhì)電導(dǎo)理論可知，理想介質(zhì)的歐姆定律可以適用到擊穿電場強(qiáng)度E=106107V/cm的范圍。在弱電場下介質(zhì)氧化膜電導(dǎo)率與電場強(qiáng)度E的關(guān)系趨于平坦，符合歐姆定律。在強(qiáng)電場下電導(dǎo)行為是離子電導(dǎo)和電子電導(dǎo)，且電子電導(dǎo)占主要地位。A.離子電導(dǎo)i在強(qiáng)電場下i隨著E的上升而增加，這可認(rèn)為是由于離子遷移率與E有關(guān)所造成的。其電導(dǎo)率i為：Tk1T-k2ET i = e 1

18、+（ ）2 B.電子電導(dǎo)e在強(qiáng)電場下e將隨著E的變化有下式關(guān)系：bETe=O e公式中、b、k1、k2、是常數(shù)，T為絕對溫度，E為電場強(qiáng)度。表面漏導(dǎo)電流IS：IS大小與所用封口材質(zhì)物性和表面狀況如清潔度等有關(guān)，難以用某一公式定量來描述。因此，清洗對降低IS 有極其重要作用。綜上所述，在工程上漏電流通用表達(dá)式為： ILC=IV+IS=KCU+M 一般地說，當(dāng)電容器的CU值比較大，ISIV時，M=0。當(dāng)CU值比較小時，IS對IV影響比較大，不可忽略，M可取0204.3 影響漏電流大小因素的分析原材料純度的影響電解電容器原材料中特別是構(gòu)成芯子的材料對漏電流影響極大，它包括鋁箔和引線的純度以及電解液中

19、用的各種化學(xué)試劑、去離子水和電解紙中的雜質(zhì)含量，這些都對漏電流造成極大影響。鋁電解電容器的陽極鋁箔,當(dāng)其純度從99.20提高到99.99時，在相同的條件下其漏電流有明顯下降,特別是在較高工作溫度時,影響更顯著。從圖1-8看出，提高鋁箔純度是延長電解電容器工作壽命以及降低漏電流的有效途徑。正極引線的純度也有同樣影響。另外，其他原材料如化學(xué)試劑、電解紙、TILC99.2%AL99.5%AL99.99%AL圖1-8鋁箔純度對漏電流與溫度的關(guān)系橡皮塞、純水等所含氯離子、硫酸根離子含量要求也嚴(yán)格。在工作電解液中即使含有極微量氯化物，也會對產(chǎn)品發(fā)生有害的影響,因為氯化物的存在不僅能使氧化膜損壞，而且會導(dǎo)致

20、陽極箔、引線被腐蝕。（因為CL-的離子半徑極小，穿透力極強(qiáng)，破壞性強(qiáng)）工作電解液的影響工作電解液不但起到電解電容器陰極作用，而且還要能隨時提供O2-不斷地供給陽極以修補(bǔ)損傷的氧化膜，倘若電解液修補(bǔ)氧化膜和防止氧化膜惡化的能力差，則勢必使產(chǎn)品漏電流變大和漏電流回升。此外，電解液中的水會使氧化膜形成水合氧化膜Al2O3·nH2O(n=13)，使介質(zhì)膜絕緣性能下降,這同樣會使漏電流增大。水合作用在陽極和陰極都有可能發(fā)生，特別在陰極更易發(fā)生，水合作用會造成C下降tg增大，嚴(yán)重者使產(chǎn)品鼓脹或開閥，所以說，水合作用是影響陰極性能的主要原因。電解液中水的影響：優(yōu)點(diǎn)：水是優(yōu)質(zhì)溶劑，能電離出很多離了，

21、有利于降低電解液的電阻率；缺點(diǎn)： 使電解液的沸點(diǎn)降低，高溫時蒸氣壓大，對密封有影響； 高溫下水和鋁及氧化膜作用生成氧化物，增加了表膜的厚度，減少C級（=S/d），并且它破環(huán)了氧化膜，導(dǎo)致AI2O3的絕緣性能惡化，電容器的ILC增加，tg增加，C變化也大。高溫下由于水不斷產(chǎn)生H2，造成內(nèi)壓上升，有爆炸的危險，在高溫貯存時較明顯。 過多的水分，使電解液電阻率下降，同時溶劑的冰點(diǎn)也下降，一方面改善低溫特性，但一方面在高溫時， 水能使電解液活化，除了與電極起水合作用外，還會因雜質(zhì)的存在易產(chǎn)生化學(xué)腐蝕； 含水量多的電解液其閃火電壓較低。制造工藝條件的影響老練工藝條件 套管后的產(chǎn)品，按極性加上規(guī)定的直流電

22、壓，通過芯包內(nèi)工作電解液的電化學(xué)反應(yīng)，對在生產(chǎn)中受到損傷的介質(zhì)氧化膜加以修復(fù)，使恢復(fù)其固有的良好電性能的過程，稱為老練。在老練過程施加老練電壓即是在氧化膜的表面施加電場，破環(huán)水合氧化膜，（水合氧化膜易被破壞，其結(jié)構(gòu)不如介質(zhì)氧化膜致密，ILC可以從水合氧化膜通過，而不能從介質(zhì)氧化膜通過。）使其恢復(fù)介質(zhì)氧化膜的性能，同時在電場的作用下，工作電解液不斷供氧原子，使生產(chǎn)過程中遭破環(huán)的氧化膜得以修補(bǔ)。老練工藝的真正目的是：（1）恢復(fù)固有的電性能，使電容器具備使用條件；（2）剔除質(zhì)量不合格的產(chǎn)品。此外，氧化膜形成時的電流密度也比電容老練時的電流密度大得多。由此可見，老練不同于形成，老練是在較低的電壓和較小

23、的電流情況下進(jìn)行的，一般是在非水溶液中進(jìn)行的，對氧化膜僅僅是緩慢的修補(bǔ)過程，而形成則是在高壓、大電流狀態(tài)下進(jìn)行的，形成液是水溶液。老練過程的實質(zhì)是：將浸漬過電解液的電容器芯子經(jīng)封裝后的半成品進(jìn)一步動態(tài)（加直流電壓）熟化的過程，通過加壓使電容器恢復(fù)其固有的電性能，使電容器具備在動態(tài)電子線路中使用的條件。因此，電容器的電能數(shù)在老練前后必然有變化。由此可見，電容器的電容量CR、損耗角正切tg、漏電流LL經(jīng)老練后下降了，即恢復(fù)了其固有的電性能。值等注意的是：CR、tg在老練1h后即趨于穩(wěn)定，只有漏電流還有時間的延長而下降。因此老練工藝中時間和溫度的確定主要取決于漏電流，如何把握這個“度”是確定老練工藝

24、的關(guān)鍵。表1 WJCC400V/100uF半成品老練前后能數(shù)對比參數(shù)CR/ uFtg/10-2IL/uA老練前137.018.7-加壓1h老練后103.03.6580高溫加壓2h老練后103.33.5210經(jīng)三個5h老練后103.23.885GB-88的規(guī)定值90-150231 200注:20120HZ下測試電容量和損耗，400v10s后測漏電流值。老練完畢所測的漏電流、損耗角正切無論多小，都不能完全保證耐久性試驗中壽命長，更不能保證可能靠性高，即可靠性高、壽命長與漏電流小、損耗角正切值低既有關(guān)系而又沒有簡單的必然聯(lián)系。因為電容器的可靠性和壽命是由原材料（鋁箔、電解質(zhì)紙）、密封材料、電解液和整

25、個工藝過程決定的，而電解液是決定長壽命和高可靠的關(guān)鍵。可以說，當(dāng)電容器芯子浸過電解液經(jīng)封裝后（老練前），電容器的可靠性已基本決定了。從以上意義來講，老練工藝依據(jù)的漏電流值以國標(biāo)為參考即可，如GB9609-88中規(guī)定漏電流：ILuA0.03CRuF·VRv （1）式中：CR為標(biāo)稱電容量；VR為額定電壓。老練工藝中時間的確定依據(jù)以漏電流的規(guī)定值的三分之一即可。即電容器的高溫加壓老練2h后就可以使電容器恢復(fù)固有的電性能，達(dá)到老練的目的。高溫老練溫度和時間的探討老練溫度的確定也應(yīng)從有利于可靠性和長壽命的角度出發(fā)。具體的依據(jù)應(yīng)從兩方面考慮：第一，電容器的額定工作溫度。第二，老練的目的-剔除質(zhì)量

26、不合格的產(chǎn)品。這樣電容器的高溫老練溫度以額定工作溫度正偏5為宜。統(tǒng)計400v/100 uF 22mm×35mm老練電流下降情況（見表2）可得結(jié)論，電容器在高溫老練過程中，總電流的變化經(jīng)歷上升最大下降最小恒定等幾個階段，最佳的高溫老練時間確定在到達(dá)最小電流之時（額定溫度到達(dá)后2h）即可，再長的老練時間是浪費(fèi)。從剔除不合格品的角度來看，電容器爆炸、鼓底發(fā)生的時間一般在電流的上升階段，即最大電流到達(dá)之前（額定溫度到達(dá)前后）。表2 老練溫度、時間數(shù)據(jù)統(tǒng)計表老練溫度105109老練電流IA/AIA/A老練時間升溫前（室溫）1.301.30剛到達(dá)老練溫度1.701.751h后1.681.722h

27、后0.60.623h后0.610.614h后0.600.61放電24h 400v 10s測試IL210uA/只130uA/只注:總數(shù)2000只，均分兩組于烘箱中，同時進(jìn)行高溫老練,電壓430v?？焖倮暇毿鹿に囈陨嫌懻摿死暇殰囟群屠暇殨r間的確定依據(jù)，但是具體老練工藝必須在了解老練機(jī)理和目的的前提下，結(jié)合所用電解液的特點(diǎn)，經(jīng)過大量的實踐摸索，才可制定出經(jīng)濟(jì)、實用、科學(xué)的老練工藝。具體溫度和時間的確定應(yīng)從可靠性試驗（高溫貯存和耐久性）角度來考慮。以下是采用不同老練工藝制作的電容器的耐久性的對比試驗，對比結(jié)果見表3。產(chǎn)品規(guī)格為WJCC HC系列，105，400v/100uF，22mm×35m

28、m。漏電流IL均為加壓400v 10s后的讀數(shù)，損耗角正切tg是在20 120 HZ下的測量值。 表3 高溫老練與耐久性的關(guān)系對比分組（TEST1118）A1B2一次室溫老練時間/h41108老練時間/h41二次室溫老練時間/h4 h1 h放電24h后IL/uA（400v 10s后的讀數(shù)）180320105貯存100 h后IL/uA520570105耐久性1000h后C/C-1/%-1.3-1.0tg4.353.68IL/uA4742從表3可見，12h長時間老練的A1組與3h老練的B2組在耐久性和高溫貯存試驗中并沒有明顯的優(yōu)勢，反而高溫貯存后漏電流變化率大，從耐久性試驗的tg數(shù)據(jù)可見，A1組可

29、能會更早失效。值得一提的是：耐久性試驗之后的漏電流幾乎都很小，筆者曾經(jīng)將高溫貯存試驗后漏電流很大的樣品進(jìn)行耐久性試驗，結(jié)果耐久性試驗后漏電流也很小，即老練工藝對產(chǎn)品耐久性幾乎無影響，因此老練時間可大大縮短。實驗表明，適當(dāng)?shù)靥岣呃暇殰囟纫部梢钥s短老練時間，而高溫貯存性能和常規(guī)貯存性能均很好。如 105系列的產(chǎn)品老練溫度提高到110后效果良好。經(jīng)驗證明400v105系列的鋁電解電容器的老練溫度和時間可改進(jìn)為：1h室溫老練，1h高溫（110）老練，再1h降溫（從110降到室溫）老練。這樣既可以達(dá)到老練的目的，又保證了可靠性和壽命。對其機(jī)理可作如下分析。鋁電解電容器的介質(zhì)是陽極氧化膜，它是在一定的溫度

30、和特定形成液中發(fā)生電化學(xué)反應(yīng)形成的。其介電性能與氧化膜的結(jié)構(gòu)有密的關(guān)系。氧化膜結(jié)構(gòu)的類型決定于原子間的堆積方式和原子間結(jié)合力的大小。在形成液一定的情況下，其晶體結(jié)構(gòu)與形成溫度有密切的關(guān)系。一般在80以下形成的介質(zhì)氧化膜為無定形膜。這種膜的結(jié)構(gòu)基本是以AI4O6片式構(gòu)成，以A1-O四面體和A1-O八面體混合堆積而成。其中還含有少量的r-AI2O3微晶和A1（OH）3，與天然氧化膜相似，其結(jié)構(gòu)是疏松的，當(dāng)溫度在100以上時，轉(zhuǎn)化為晶形的r-AI2O3氧化膜。r-AI2O3原子間的結(jié)合力大，是一種類尖晶石結(jié)構(gòu)的致密氧化膜，其電子衍射圖類似r-AI2O3。因此，此種結(jié)構(gòu)的氧化膜具有良好的介電性能，耐水

31、合能力強(qiáng)。對于高壓電容器而言，疏松的無定形膜易受雜質(zhì)離子的侵蝕，電性劣化快。基于上述原理，適當(dāng)提高老練溫度可形成r-AI2O3致密的晶形氧化膜。老練電壓對鋁電解電容器C也有存在影響：對于低壓產(chǎn)品（10V），施加老練電壓前后C變化率不大（3%5%），而對于小容量產(chǎn)品（如50V0.47uF）,施加老練電壓前生C變化率卻較大；另外：在正常老練電壓下老練后，低壓產(chǎn)品的C對電壓較為敏感(電壓每升高0.5V，其C變化率為10%15%)，而較高電壓(如50V)產(chǎn)品的C卻隨電壓的變化不大(電壓每升高0.5V，其C變化率約為5%6%)，對于低壓產(chǎn)品，電壓升高后其漏電流有微小的增大；對于較高電壓(如50V)產(chǎn)品，

32、ILC隨之減小。老練的過程即：恒流升壓，恒壓降流。老練工藝條件主要是指室溫和高溫老練的電壓和時間、升壓速率和恒流大小等。老練目的除了剔除早期不良品外，更為得要的是要充分修補(bǔ)損傷的氧化膜（Al2O3）成為高品質(zhì)的介質(zhì)膜。如果修補(bǔ)不充分，就會造成漏電流增大或回升。工藝衛(wèi)生 不文明生產(chǎn)和環(huán)境衛(wèi)生條件差都會造成漏電流增大。因空氣中塵埃可能包含有導(dǎo)電微粒，以及手汗含有較高濃度的CL-，這些也是嚴(yán)重影響產(chǎn)品漏電流并使之變大的原因。施加電壓的大小和時間的影響鋁電解電容器的漏電流隨著施加電壓的增加而上升，其規(guī)律是：當(dāng)外加電壓值低于電容器額定工作電壓UR時，漏電流隨著外加電壓的增加而緩慢上升，而UILCUR U

33、f外加電壓超過UR時，漏電流將劇烈上升，變化規(guī)律如圖1-9所示。 圖1-9 漏電流與外加電壓的關(guān)系 這種變化規(guī)律可以這樣來解釋：在外加電壓增加而介質(zhì)氧化膜的厚度不變的情況下，施加在氧化膜上的電場強(qiáng)度E將隨著電壓的增加而增大，作為漏電流主要部分的電子電流Ie與外加電場E之關(guān)系符合正弦雙曲線函數(shù):Ie=asinh bE 式中E為外加電場強(qiáng)度，a為與溫度有指數(shù)關(guān)系的常數(shù)，b為常數(shù)。當(dāng)電強(qiáng)度達(dá)到某一值后，介質(zhì)晶體中一些弱束縛的雜質(zhì)離子在強(qiáng)電場的作用下將參加電導(dǎo)，并且隨著電壓的增加，參加電導(dǎo)的雜質(zhì)離子數(shù)目劇增，因而漏電流大大增加。電解電容器漏電流與施加電壓持續(xù)時間t的關(guān)系見圖1-10所示。ILCt圖1-

34、10 漏電流施加電壓持續(xù)時間的關(guān)系由圖可知在施加電壓的初始階段，漏電流隨著施加電壓待續(xù)時間的增加而迅速下降，最后達(dá)到某一穩(wěn)定值。圖1-10曲線還可以用來衡量產(chǎn)品質(zhì)量的好壞。質(zhì)量好的，漏電流下降速度快，穩(wěn)定值又小，反之為質(zhì)量差的。漏電流隨施加電壓時間而緩慢下降，最后達(dá)到穩(wěn)定，對此現(xiàn)象有以下三種不同的理解： 1）.電解電容有緩慢極化現(xiàn)象（負(fù)離子在界面上將會聚集很多）特別是應(yīng)用了襯墊紙的結(jié)構(gòu)，由于它的電容量大，在充電過程中，呈現(xiàn)出較大的吸收電流，最后決定于氧化膜的質(zhì)量達(dá)到穩(wěn)定后的漏導(dǎo)，因此需要有一定的時間才能完成。 2）電容器在經(jīng)過一段時間的擱置，氧化膜有可能由于存在雜質(zhì)而遭到化學(xué)或電化學(xué)腐蝕損傷的

35、危險，因此在施加電壓的開始，是一個迅速對部分氧化層進(jìn)行修補(bǔ)的過程，開始時可能離子電流居首，隨后主要決定于氧化膜的缺陷所引起的電子電流。 3）電容在使用過程中，膜中的微孔及縫隙將充滿氧氣，塞住了電解質(zhì)與陽極的通路，因此漏電流只是那些未曾堵住的電流，但當(dāng)去除電壓后，孔洞中的氧氣被釋放，以后再繼續(xù)施加電壓時，是一個又要進(jìn)行重新塞住孔洞導(dǎo)電通路的過程，這樣在過程中，離子和電子流均有，最后達(dá)到穩(wěn)定。溫度的影響漏電流隨著溫度上升呈指數(shù)性上升，這是由于AL2O3氧化膜中的雜質(zhì)離子遷移能力隨著溫度上升而急劇增加，使氧化膜的離子電導(dǎo)率i 增大，從而使漏電流增大。時間的影響鋁電解電容器經(jīng)過一段時間或長期貯存后，出

36、現(xiàn)漏電變大的現(xiàn)象，即稱漏電流回升。這鋁電解電容器本身固有的缺點(diǎn)，與鋁金屬是兩性金屬，鋁以及鋁的氧化物易受化學(xué)物質(zhì)作用的能力較差有關(guān)。產(chǎn)品在放置中，工作電解液分子、電解質(zhì)的正負(fù)離子以及所有原材料、工序流程中帶入的雜質(zhì)粒子會不同程度浸入氧化膜表層的多孔性膜，產(chǎn)生緩慢的溶解、腐蝕、水合作用，降低氧化膜的介電強(qiáng)度。鋁電解電容器貯存（擱置）的時間越長，貯存的環(huán)境溫度越高，其介質(zhì)氧化膜局部破壞或損傷的可能性就越大，這是因為原材料和制造中不可避免帶進(jìn)微量有害的雜質(zhì)造成局部腐蝕。另外，像CL- 、SO24-之類的有害雜質(zhì)，在有水溶液情況下形成酸，直接對AI2O3膜和金屬鋁發(fā)生腐蝕作用。上述這些原因都導(dǎo)致漏電流

37、增大。因此，對久存不用或庫存產(chǎn)品要進(jìn)行重新老練處理（又稱電壓處理）。施加電壓要從低壓緩慢地升至額定工作電壓或1.25倍額定電壓(室溫),其過程相同于老練工藝。貯存的影響特別對高壓大容量的產(chǎn)品影響嚴(yán)重，必須引起足夠的重視。4.4貯存期及貯存條件對漏電流的影響 在這方面，鋁電解有明顯的缺點(diǎn)，鋁電解的貯存期愈長，氧化膜被損傷的可能性愈大。這是由于其中的雜質(zhì)金屬離子與鋁箔組成微電池的作用以及含水較多的工作電解液對鋁氧化膜的水合侵蝕。也可能其中的溶質(zhì)對鋁氧化膜還有溶解破壞作用，因為如果電解液PH值偏離中性很多，就可能出現(xiàn)這一現(xiàn)象，這種現(xiàn)象稱為去形成作用。另外，如產(chǎn)品本身結(jié)構(gòu)密封性不好，則電解液成分有揮發(fā)

38、損失甚至干涸的可能，另外還會吸收外界潮氣等，更促進(jìn)了破壞的加劇。所以在經(jīng)過較長時間的貯存后，一接上額定電壓，漏電流很大，而且在正常時間內(nèi)降得很慢，氧化膜也會來不及修復(fù)，造成氧化膜更多部位的擊穿，此時產(chǎn)品將發(fā)熱，即可能導(dǎo)致永久性損壞。但一般遇到這種情況，可逐漸升壓，電容就可以逐漸恢復(fù)正常 。 總之，漏電流大小是衡量電容性能及工藝過程是否合適和文明生產(chǎn)程度的一個最直接標(biāo)志，任何原材料中的雜質(zhì)以及操作中的污染（灰塵、汗?jié)n等），均有可能導(dǎo)致氧化膜生長不均以及膜上存在缺陷，而組成穩(wěn)態(tài)漏電流的主要部分-電子電流，就是通過缺陷以及箔的邊緣而進(jìn)行的。4.5抑制漏電流回升的對策 漏電流回升是比較復(fù)雜的，涉及問題

39、多，要在分析諸多因素中抓住主要因素加以解決。通?？刹扇∪缦聦Σ撸哼x用高品質(zhì)的工作電解液。選用高品質(zhì)的陽極箔，或選用形成電壓Uf高的和腐蝕系數(shù)k值小的陽極箔。適當(dāng)延長老練時間和改變老方法，如采用脈沖老練或間歇式老練方式。加強(qiáng)原材料檢驗。嚴(yán)格控制CI- 、SO24-的含量，最好控制在0.5mg/L以下。提倡文明生產(chǎn)。要凈化生產(chǎn)環(huán)境，在裝配之前要嚴(yán)防手汗污染芯子。正極引線采用化成引線，特別是小容量電容器。適當(dāng)加嚴(yán)漏電流出廠內(nèi)控指標(biāo)。5陽極腐蝕的原因和抑制方法 51引起陽極腐蝕的原因電容器在生產(chǎn)過程中帶進(jìn)的雜質(zhì)和電解液本身含有的雜質(zhì)是引進(jìn)陽極腐蝕的主要原因，這些雜質(zhì)因含有離子半徑較小的CI- 、SO2

40、4-，它們一方面能防礙金屬鈍化被膜的形成；另一方面由于其半徑小、穿透力強(qiáng)，易破金屬表面已形成的保護(hù)膜，在電容器使用過程中，易對陽極引線和鋁箔時行局部腐蝕，在腐蝕的初期這兩種離子破環(huán)性最大，是腐蝕的誘因。電解液中過多的水分以及電容器盛裝過多的電解液也是導(dǎo)致陽極腐蝕的一個重要因素。過多的水分易破環(huán)氧化膜結(jié)構(gòu)，同是腐蝕產(chǎn)生的鹽也會水溶解生成AI（OH）3，過多的電解液易使最初的電化學(xué)腐蝕向純化學(xué)腐蝕轉(zhuǎn)化，使電容器的陽極腐蝕加劇。電解液中的溶解氧也是造成腐蝕的原因。在濃度較稀的高壓電解液中溶解氧的濃度較高，在電容器密封后多余的溶解氧不但對修補(bǔ)氧化膜無益，反而會降低電解液的閃火電壓，極易使鋁箔和引出線發(fā)

41、生閃火，閃火的發(fā)生實際是鋁的氧化腐蝕過程，因此濃度稀的電解液比濃度高的電解液更易發(fā)生陽極腐蝕。 52針對以上腐蝕原因，作如下抑制方法 提高電容器所用材料純度，減少雜質(zhì)含量； 用甩干的方法或開口老練的方法減少電容器中多余電解液的含量； 減少芯子及電解液中的水分； 采用高濃度電解液減少溶解氧的含量，提高電解液的閃火電壓； 采用緩蝕劑，保護(hù)氧化膜或形成保護(hù)膜。當(dāng)然，陽極腐蝕是綜合的、復(fù)雜的電化學(xué)過程，不能將腐蝕原因簡單歸結(jié)為水含量高、CI-含量高，所以在抑制陽極腐蝕時還應(yīng)考慮電解液使用次數(shù)，電解液溶質(zhì)含量的多少，電解液的PH值等因素。6電容器在脈動電路中的發(fā)熱：電容器接入脈動電路后，除了完成其功能外

42、，還要消耗一部電能，并轉(zhuǎn)變成熱耗，一方面電容器本身發(fā)熱；另一方面也通過電容器外表向周圍附近環(huán)境散熱，所消耗的電能常用有功功率損耗P有來表示，對電容來講，由兩部份組成； （1）由于較大的漏電流所引起的發(fā)熱損耗，這種情況一般是指高溫情況下。（2）由于存在tg所引起的發(fā)熱損耗，嚴(yán)格地講它包括三個部份，介質(zhì)損耗、電解質(zhì)損耗、導(dǎo)電及接觸電阻損耗；P有=ItU- +U2C tgU- U 直流電壓和交流分量電壓的有效值It在該直流電壓下的直流漏電流;tg電容在某一時及規(guī)定溫度下總損耗.(注:此分式為并聯(lián)等效電路所推導(dǎo))C1若為串聯(lián)等效電路:( P有 )= I2r=(U/ z )2rUCr/1+ tg2ZA

43、Z= 1+ tg2(P有)=( )2r= U2(Cr/1+ tg2ð) tg另外注意,并聯(lián)電路所所推導(dǎo)出的公式,適用于正弦電壓,如果電壓波形為非正弦曲線，即除頻率為f1的正弦基波外,還會有高次諧波,則P有可能顯著增加,在此情況下，電容的總功率損耗是每個單獨(dú)頻率下?lián)p耗之和。鋁電解電容的最高容許溫度決定于工作電解液，不得超過使電解液性能惡化，發(fā)生不可逆的溫度。7使用中提高電解電容器壽命措施無論電容器在電子技術(shù)哪個領(lǐng)域中使用，都希望所用元件滿足性能要求，不會輕易受損，達(dá)到延長使用壽命的目的。在電路設(shè)計時，應(yīng)對電解電容器的性能有更深入的了解，做到心中有數(shù)，不要使電容器一直處于工作頂峰狀態(tài)。具

44、體從以下幾個方面來考慮。71降低所處環(huán)境溫度降低所處環(huán)境溫度，使電容器不在上限類別溫度下工作，另外還要考慮電容器本身發(fā)熱影響，這一點(diǎn)對液體電解質(zhì)類型產(chǎn)品尤為重要。如果產(chǎn)生高溫，會使漏電流劇增，氣體增多，使外殼處于內(nèi)壓急增狀態(tài)；另外高溫能使電解液加速干涸，相對縮短產(chǎn)品壽命。因此對長壽命要求的產(chǎn)品來說，工作溫度應(yīng)控制在50以下，這樣相應(yīng)的壽命約可提高12個數(shù)量級。例如在45以可工作20年的計算機(jī)電容器，在85下則只能工作12年。如需要應(yīng)用在上限類別溫度（85），則電容器芯子中心溫度應(yīng)不超過95，而且還得視所選擇工作電解液的性質(zhì)而定。這種高溫影響對固體鉭電容器來說，不如鋁電解電容器那么嚴(yán)重，但肯定也

45、是有害的。72降低額定電壓的使用上限降低額定電壓的使用上限，也就是降低介質(zhì)氧化膜的工作場強(qiáng)，對鋁電容器將適用。降負(fù)荷一半后，電容器的壽命能提高2個數(shù)量級之多。實際上鋁氧化膜如出現(xiàn)損傷和被腐蝕，修補(bǔ)氧化膜拜出只能在最高的工作電壓下進(jìn)行，局部難于恢復(fù)到原始形成電壓值下的氧化膜厚度，所以過分降低工作電壓，對鋁電解電容器也并不是最合適的措施。比較以上兩個因素的影響，對鋁電容器來說，以降低工作溫度為最關(guān)鍵。73控制工作中的紋波電流值電解電容器用在脈動電路中，造成功率消耗而發(fā)熱升溫的主要因素是紋波電流（對較小容量的電容器則是紋波電壓）的大小，一般提供的失效率與溫度關(guān)系曲線大都是在無紋波的直流電壓下測出的只

46、考慮了漏電流，比此時芯子內(nèi)部中心溫度幾乎與環(huán)境溫度相差不多。可是在實際應(yīng)用中，由于紋波電流所導(dǎo)致的發(fā)熱能使芯子中心溫升，最高時可達(dá)到幾十?dāng)z氏度。（芯子溫升取決于電容器所處環(huán)境溫度和對紋波電流的控制）。所以，高紋波電流易造成芯子的電解液干涸，電容器早期失效。同時，長時間紋波電流超過規(guī)定值，也是導(dǎo)致電容器防爆閥打開的因素之一。74避免頻繁的浪涌電壓施加到電容器上電路的開或關(guān)，都會產(chǎn)生一過渡狀態(tài)的瞬間電壓，一般其值要大于工作電壓，而且相應(yīng)地產(chǎn)生一沖擊電流，如果電源和負(fù)載的電阻均較小，這樣瞬時電流值相當(dāng)大，容易引起電解電容器氧化膜的損傷，因為電容器在大沖擊電流下 ，容易在膜的薄弱區(qū)域發(fā)熱促使晶化提早產(chǎn)

47、生，并降低耐壓能力，所以為提高使用壽命，應(yīng)避免發(fā)生頻繁的浪涌電壓施加到電容器上，當(dāng)工作電壓接近額定電壓時，更是如此。75選擇漏電流值較小的電容器作為長壽命使用的電解電容器，除了以上4點(diǎn)外加因素的考慮外，在選用中還要選擇在同類型中漏電流特別小的電容器。這表明它具有較高質(zhì)量的氧化膜和合適的工作電解質(zhì)。一旦環(huán)境溫度較高，相應(yīng)的漏電流增加就較慢。否則在互為影響的情況下，當(dāng)漏電流劇增，內(nèi)部溫度將上升，反過來使漏電流再上升，一直惡化直至失去熱平衡而破壞為止。LOW ESR產(chǎn)品專題： 用途：（1）開關(guān)電源（充電電源），節(jié)能； （2）主機(jī)板（運(yùn)算頻率高）。如：需主機(jī)在幾秒鐘處理大量的數(shù)據(jù)運(yùn)算，需瞬時的大電流：

48、ESRUI= 特點(diǎn)：瘦長（電流流過的路徑短）LOW ESR產(chǎn)品與其它系列的區(qū)別：1 ESR值低 A. 低密度紙（易斷，抗毛刺能力差）B. 高電導(dǎo)率電解液 (含水高)易銹、易與鋁氧化2 易短路3 抗紋波電流能力強(qiáng)（100KHZ的紋波電流）4 壽命：105 1000h2000h設(shè)計原理：1 選用低密度紙；2 高電導(dǎo)率的電解液；3 低比容的箔（tg）；4 選用窄的導(dǎo)針（）；5 加寬箔裁切（瘦長型）。制造中的注意事項：1 切箔（定期更換刀具，嚴(yán)格控制毛刺）；2 釘卷（箔面的劃傷，花瓣毛刺）；3 組立（加料少，一次用完再加料）23小時內(nèi)組立完畢；4 含浸（不能加溫）；5 老練Short；6 用短路測試器

49、測試干芯包；7 工藝衛(wèi)生的控制；8 毛刺的控制；9 定機(jī)臺生產(chǎn)。專題：電解液中水的作用 優(yōu)點(diǎn)：水是優(yōu)質(zhì)溶劑，能電離出H+ 和O2-，有利于降低電解液的電阻率。 缺點(diǎn)：1）使電解液的沸點(diǎn)降低，所以，高溫時蒸氣壓大，在高溫環(huán)境下使用，密封困難。 2）高溫下，水和鋁及氧化鋁膜作用生成氫氧化物，增加了鋁箔的表面厚度（C=S/d），并且它破壞了氧化膜導(dǎo)致Al2O3的絕緣性能惡化，電容器的ILC、tg。由于：水不斷產(chǎn)生HZ，造成內(nèi)壓上升，有爆炸危險，特別是高溫貯存時， 3）水分多，電解液電阻率，同時溶劑的冰點(diǎn)，可以改善產(chǎn)品的低溫特性，但在高溫時卻無法使用。（水能使電解液活化，除了與電極起水合反應(yīng)外，還會因

50、雜質(zhì)的存在易產(chǎn)生化學(xué)腐蝕）。4）含水多的電解液，其閃火電壓降低，不能用于高壓電解液。雙極性電解電容的工作狀態(tài)： 顧名思義：這種電容還是有極性的，不過在應(yīng)用中，極性可以有限制的變換，但變換頻率不可太快，即可在低頻條件下有限制的使用，所以稱雙極性，以有別于交流電解電容器。1.一般結(jié)構(gòu)形式將極性電容器的負(fù)極箔換用同樣規(guī)格和尺寸的陽極箔代替，形成2個規(guī)格的陽極箔電容器反向串聯(lián)，其共同電解液作共同陰極，這類鋁電容目前有兩種類型：A為應(yīng)用于極性變換的直流電路或脈動電路中，其承受紋波電壓的能力與極性電容器相似，唯一特點(diǎn)是可定期作極性變換。B應(yīng)用于單相電容或感應(yīng)電動機(jī)中作交流起動用，工作時雖然承受的完全是純交

51、流電壓，但卻規(guī)定了容許單位時間內(nèi)起動的次數(shù)和每次起動時間的持續(xù)不超過幾秒鐘，其原因就是不容許它發(fā)熱溫升而決定的，在結(jié)構(gòu)上由于芯子放在金屬外殼內(nèi)，而電解液又與外殼接觸，因此外殼帶電，如不將外殼絕緣，則可能有將其中一個電容器短接掉的危險，從而失掉雙極性類型的特點(diǎn)。1.測試中出現(xiàn)的特點(diǎn)：A 直流電壓在兩個電容器上是不均勻分配的，處于正向狀態(tài)的電容器其上的電壓高，處于反向狀態(tài)的電容器其上的電壓低，但是分配的比例與施加電壓的大小并無一定關(guān)系。B 當(dāng)極性變換后，電壓分配方式顯然有所改變。C 當(dāng)極性變換后，ILC大小也所改變，正向電容器上的電壓高ILC就偏大一些。D 直流電壓值的分配是隨著測量時間而改變的，

52、最后趨于穩(wěn)態(tài)。E 雙極性電容器的電容量及tg值與所施加的直流電壓的大小無關(guān)，tg值要比單個極性電容器的大，電容量則為兩個容量值的串聯(lián)值。F 當(dāng)測量完畢，電鍵自“測試”位置扳向“放電”位置后，正向電容器上的電壓緩慢降低，而反向電容器上的電壓瞬即變換成正向狀態(tài)，好久不會消失，除非外加短線將其短接掉。2 原因的大致分析：A根據(jù)上述，當(dāng)交流電壓很小，在施加直流電壓條件下，外于反向狀態(tài)的電容器并不是一個純電導(dǎo)，而是既有電容量又承受反向電壓，因此它與正向狀態(tài)的電容器串聯(lián)后，其總?cè)萘坑嬎銥椋篊21C11C1 = + 2121當(dāng)C1C2時，C C1 C2。R2R1U2U1B.當(dāng)交流分量很小時，改變施加在其上的直流工作電壓，電壓分配將出現(xiàn)