光模塊原理和測試基礎(chǔ)

1、光模塊原理 Editor: Roger Li Date:2017/7/17內(nèi)容內(nèi)容 模塊協(xié)議 模塊封裝 模塊分類 模塊結(jié)構(gòu) 模塊框圖 模塊參數(shù)模塊參數(shù) 8472協(xié)議協(xié)議光模塊協(xié)議光模塊協(xié)議 IEEE 802.3ba IEEE 802.3ah IEEE 802.3ae SFF-8472 SFF-8431 SFF-8436 SFF_INF 8077i 光模塊封裝光模塊封裝SFF（焊接，不可帶電熱插拔）SFPSFP+GBICXFPQSFPQSFP28X2CFPCFP2CFP4*SFP與SFP+相比，外觀尺寸相同，SFP+能傳輸10G速率的信號，對電磁信號屏蔽要求更高SFP由GBIC演變過來SFP+由

2、XFP演變過來光模塊封裝尺寸比較光模塊封裝尺寸比較 趨勢，體積更小，密度更高，功耗更低光模塊分類光模塊分類SFP光模塊波長：850、1310、1490、1550、CWDM、DWDM速率：0-10G bit/sSFP電模塊接口：RJ45，COPPER速率：10/100/1000M自適應(yīng)，強(qiáng)制1000MXFP模塊波長：850、1310、1270、1330、CWDM、DWDM速率：10G bit/sSFP+ 光模塊波長：850nm,1310nm,1270nm,1330nm,CWDM,DWDM速率：10Gbit/sCFP，CFP2和CFP440Gbit/s,100Gbit/sQSFP2840Gbit/

3、s,100Gbit/s光模塊結(jié)構(gòu)光模塊結(jié)構(gòu) SFF和SFP為列光模塊典型功能框圖（直接調(diào)制） LD電流周期變化光模塊典型功能框圖（間接調(diào)制） LD電流恒定不變光模塊典型功能框圖（接收）光模塊典型功能框圖（收發(fā)一體）光模塊典型功能框圖（XFP）光模塊發(fā)端參數(shù)定義光模塊發(fā)端參數(shù)定義 AOP ER OMA光模塊參數(shù)換算關(guān)系光模塊參數(shù)換算關(guān)系 特別注意：P0不是0電平光模塊眼圖的測試光模塊眼圖的測試光模塊眼圖的獲取光模塊眼圖的獲取 大量數(shù)據(jù)通過周期性采樣、疊加形成光模塊眼圖能獲取的主要參數(shù)光模塊眼圖能獲取的主要參數(shù) 波型參數(shù)消光比抖動 眼高 眼寬交叉點等等 模板測試標(biāo)準(zhǔn)驗證模板冗余度眼圖余量測試眼圖余

4、量測試誤碼率的定義誤碼率的定義從碼型發(fā)生器發(fā)出測試碼型給被測器件.在誤碼分析儀內(nèi)部產(chǎn)生與預(yù)期從被測器件發(fā)出的碼型相同的碼型對比碼型發(fā)生器發(fā)送的碼型與碼型分析儀接收的碼型，找出不一致的碼型個數(shù)誤碼測試的可信度誤碼測試的可信度 誤碼率測試總是一個概率問題，不能得到100%的確定結(jié)果誤碼測試的效率誤碼測試的效率1 不同速率下滿足95%可信度的測試時間誤碼測試的效率誤碼測試的效率2 由被測設(shè)備接收機(jī)所收到的光功率和誤碼率的關(guān)系圖來遞推 是一個粗略而非精確的評估方法壓力眼測試 VECP= 10*Log(OMA/Ao)8472協(xié)議協(xié)議 是一份定義了光模塊數(shù)字監(jiān)控量接口的多元協(xié)議 五個監(jiān)控量： 用途： 預(yù)測光模塊壽命 故障定位 兼容性測試SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議 思考： 什么是8B/10B？ 8B/10B與NRZ的區(qū)別是什么？ 8B/10B與PRBS的關(guān)系 http:/ http:/ 內(nèi)校準(zhǔn)：Internal Calibration 外校準(zhǔn)：External CalibrationSFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472協(xié)議SFF-8472