SOP03011可靠性測試規(guī)范E

1、SOP文件編號:SOP-030-11文件名稱: 可靠性測試規(guī)范版本號: ERevision Summary（每次創(chuàng)建或修改時使用空白表格在第一行寫入本次變更內(nèi)容）版本號:文件生成時間:變更描述:變更原因:變更人:A2011-11-9新增新增鐘鳴B2012-11-91、 改名為“可靠性測試規(guī)范”2、 由于新增“物料認(rèn)可SOP”，調(diào)整相應(yīng)內(nèi)容以保持一致；3、 調(diào)整LTOL條件為Power ON/OFF；4、 MSL、TS后增加熱測、VF等檢視手段；5、 對于非COB產(chǎn)品，材料焊在FR4板上，再進(jìn)行TS、HTS、TH等試驗；6、 測試申請由email方式，改為以可靠性測試申請單書面方面；變更袁友行C

2、2013-7-41、 6.3中新增可靠性試驗失敗后的應(yīng)對措施。變更袁友行D2013.12.251、實驗項目WHTOL取消ON/OFF，時間由500Hà1000H；2、光通量失效判定標(biāo)準(zhǔn) 0.7à0.9；3、增加色漂判定標(biāo)準(zhǔn)Duv > 0.004；變更袁友行E2015.3.301、6.2實驗項目按照不同客戶、不同項目進(jìn)行區(qū)分說明；2、6.3增加新產(chǎn)品，衍生產(chǎn)品的定義及其可靠性測試要求；變更袁友行變更人 / 核準(zhǔn)人員變更人: 核準(zhǔn)人:會簽：會簽部門：簽字、日期會簽核準(zhǔn)部門：簽字、日期1.0 目的：對可靠性測試各流程進(jìn)行有效管理，確保可靠性測試結(jié)果準(zhǔn)確；通過對公司新產(chǎn)品、新

3、物料、常規(guī)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性測試，確保公司產(chǎn)品的可靠性符合客戶要求；2.0 范圍：適用于公司所有產(chǎn)品（新產(chǎn)品、新物料、常規(guī)產(chǎn)品等）的各項可靠性測試項目；3.0 職責(zé)：可靠性工程師：1. 制定可靠性測試規(guī)范，配備相應(yīng)的軟硬件以實現(xiàn)各實驗項目； 2.按照測試申請單進(jìn)行相應(yīng)可靠性測試；3.采取措施，確保老化過程嚴(yán)格執(zhí)行實驗要求；4.當(dāng)公司內(nèi)部缺乏某些實驗手段時，選擇合格的第三方實驗室執(zhí)行試驗；5.總結(jié)可靠性測試報告；物料工程師：制定物料評估、認(rèn)證計劃，并負(fù)責(zé)提交試樣階段的可靠性試驗申請單；研發(fā)工程師： 制定新產(chǎn)品評估、認(rèn)證計劃，并負(fù)責(zé)提交試樣階段的可靠性試驗申請單；品質(zhì)工程師：制定常規(guī)產(chǎn)品可靠性評估計劃

4、，并負(fù)責(zé)提交常規(guī)產(chǎn)品的可靠性試驗申請；4.0 安全：無5.0 定義：可靠性：一個系統(tǒng)在規(guī)定條件下，在規(guī)定時期內(nèi)，能成功實現(xiàn)其預(yù)定功能的可能性。新產(chǎn)品：新增產(chǎn)品，即新開發(fā)產(chǎn)品；衍生產(chǎn)品：在成熟產(chǎn)品的基礎(chǔ)上，根據(jù)客戶需求，或者自主開發(fā)，不變更支架，只是變更芯片，熒光粉等對整體制程不產(chǎn)生影響的產(chǎn)品。6.0 流程： 6.1 一般流程與要求6.1.1 研發(fā)工程師、物料工程師、品質(zhì)工程師以書面形式向?qū)嶒炇姨峤粶y試申請單，提交相應(yīng)樣品，在申請單中詳細(xì)填寫實驗樣品的各項信息，及委托項目； 6.2 實驗項目6.2.1 常規(guī)SMD產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference

5、 standard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85, Typical IF1000hdelta flux90%delta x/y0.0050/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105, Typical IF1000h供參考0/103高溫高濕老化WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85, 85%RH, Typical IF500hdelta flux70%delta x/y0.030/104潮氣敏感度MSLIPC/

6、JEDEC J-STD-02085/85%環(huán)境下吸濕12h以上à貼片à三遍回流焊無死燈、缺亮0/205溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 125, 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮sequence from MSL6高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=1001000hdelta flux90%delta x/y0.0050/107高溫高濕存儲THJEITA ED-4701/103Ta=60, 90%RH1000hdelta flux90%delta x/y0.0050/

7、108靜電放電人體模式ESD HBMJESD22-A114 ESD HBM mode2KV85% for normal LED, 8KV100% for LED with zener供參考0/209硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75烤箱中儲存4h,8h,12h,供參考0/1010熱阻測試TRJESD51-14供參考0/26.2.2 常規(guī)COB產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test durat

8、ion判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85, Typical IF1000hdelta flux95%delta x/y0.0050/32高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105, Typical IF1000h供參考0/33高溫高濕老化WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85, 85%RH, Typical IF1000hdelta flux90%delta x/y0.030/34溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 125, 15min dwell, less than 20sec

9、 transfer time100cycle無死燈、缺亮0/55高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=1001000hdelta flux95%delta x/y0.0050/36高溫高濕存儲THJEITA ED-4701/103Ta=60, 90%RH1000hdelta flux95%delta x/y0.0050/37靜電放電人體模式ESD HBMJESD22-A114 ESD HBM mode2KV85% for normal LED, 8KV100% for LED with zener供參考0/58硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器

10、內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75烤箱中儲存8h,24h,48h供參考0/39熱阻測試TRJESD51-14供參考0/26.2.3 TCL BLU產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.實驗名稱實驗方法判斷依據(jù)數(shù)量備注180極限高溫試驗Ta=80；1000h；額定電流；實際散熱片；平置；delta flux85%delta x/y0.0155*N(N：單臺整機(jī)所用LB條數(shù)；)實驗后無黃化等顯性不良245高溫老化試驗Ta=45；1000h；最大電流；散熱片確保LED結(jié)溫<110；平置；delta flux85%delta x/y0.0153ESDESD HBM mode，&#

11、177;4KV，10次，LB引腳à地，不接地，不驅(qū)動燈條試驗后能正常點亮54硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75烤箱中儲存8hdelta flux80%106.2.4 創(chuàng)維 BLU產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測試項目Test item測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested1高溫老化HTOLTa=65, Typical IF500hdelta flux70%delta VF<10%IR<2

12、倍初始值不可有外觀性不良0/62高溫存儲HTSTa=85500h0/63低溫老化LTOLTa=-40, Typical IF500h0/64低溫存儲LTSTa=-40500h0/65高溫高濕老化WHTOLTa=85, 85%RH, Typical IF179h0/66溫度沖擊TS-45 125, 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮sequence from MSL7靜電人體模式ESD HBM mode接 觸 放電， 參考國 際 靜電 協(xié) 會(ANSI)標(biāo) 準(zhǔn) 中電 壓 等級：2 級 （2KV）0/26.2.5 L項目

13、的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested(non-COB)1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=55, Max IF1000hdelta flux85%delta x/y0.007delta VF10%0/202高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=85, Max IF1000h0/203低溫老化LTOLJESD22-A108Ta=-40, Max IF1000h0/204高溫高濕老化WH

14、TOLJEITA ED-4701/102Ta=85, 85%RH, Max IF，30min ON/OFF500h0/205高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=1001000h0/206低溫存儲LTSJEITA ED-4701/201Ta=-401000h0/207溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 125, 15min dwell, less than 20sec transfer time300cycle無死燈、缺亮0/206.2.6 光引擎產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test co

15、ndition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85, 120Vac/230Vac驅(qū)動1000hdelta flux90%delta x/y0.0050/32Rapid-Cycle Stress Test 快速循環(huán)壓力測試ENERGY_STAR_Integral_LED_Lamps_Program_Requirements_V1.4Ts=85, 120Vac/230Vac驅(qū)動，2min ON/OFF1000hdelta flux90%delta x/y0.0050/53高溫老化HTOL

16、2JESD22-A108Ts=105, 120Vac/230Vac驅(qū)動1000h供參考0/34高溫高濕老化WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=60, 90%RH, 120Vac/230Vac驅(qū)動1000hdelta flux70%delta x/y0.030/35溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 125, 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮0/56高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=1001000hdelta flux90%delta x/y0.0050/37高溫高濕存儲TH

17、JEITA ED-4701/103Ta=60, 90%RH1000hdelta flux90%delta x/y0.0050/38靜電測試IEC61000-4-2 (GBT17626) 2KV供參考0/59浪涌測試供參考0/510抗雷擊測試供參考0/5（備注：Rapid-Cycle Stress Test 、HTOL2測試3000h供參考；）6.2.7 RG高色域產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Teste

18、d1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85, Typical IF1000hdelta flux70%delta x/y0.030/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105, Typical IF1000h供參考0/103高溫高濕老化WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85, 85%RH, Typical IF500hdelta flux70%delta x/y0.030/104潮氣敏感度MSLIPC/JEDEC J-STD-02085/85%環(huán)境下吸濕12h以上à貼片à三遍回流焊無死燈、缺亮0/205溫度沖擊TSJESD22-A1

19、06B-45 125, 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮sequence from MSL6高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=1001000hdelta flux70%delta x/y0.030/107高溫高濕存儲THJEITA ED-4701/103Ta=60, 90%RH1000hdelta flux70%delta x/y0.030/108靜電放電人體模式ESD HBMJESD22-A114 ESD HBM mode2KV85% for normal LED, 8KV100% for L

20、ED with zener供參考0/209硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75烤箱中儲存4h,8h,12h,供參考0/106.2.8 FLASH產(chǎn)品的實驗項目及判定標(biāo)準(zhǔn)：No.測試項目Test item參考標(biāo)準(zhǔn)Reference standard測試條件Test condition測試時間Test duration判定標(biāo)準(zhǔn)Criteria樣品數(shù)UnitFailed/Tested(non-COB)1高溫老化HTOLJESD22-A108Ts=85, Max IF1000hdelta flux90%delta

21、x/y0.0050/102高溫老化HTOL2JESD22-A108Ts=105, Max IF1000h供參考0/103高溫高濕老化WHTOLJEITA ED-4701/102Ta=85, 85%RH, Max IF500hdelta flux70%delta x/y0.030/104Pulsed  operating lifeTa=25C,IF =Max IFP, T ON =400ms and T off=3600 ms30,000 cyclesdelta flux90%delta x/y0.005無死燈0/205潮氣敏感度MSL1IPC/JEDEC J-STD-02085/85

22、%環(huán)境下吸濕168h以上à貼片à三遍回流焊無死燈、缺亮（供參考）0/206潮氣敏感度MSLIPC/JEDEC J-STD-02085/85%環(huán)境下吸濕12h以上à貼片à三遍回流焊無死燈、缺亮0/207溫度沖擊TSJESD22-A106B-45 125, 15min dwell, less than 20sec transfer time100cycle無死燈、缺亮sequence from MSL8高溫存儲HTSJEITA ED-4701/201Ta=1001000hdelta flux90%delta x/y0.0050/109高溫高濕存儲THJEIT

23、A ED-4701/103Ta=60, 90%RH1000hdelta flux90%delta x/y0.0050/1010靜電放電人體模式ESD HBMJESD22-A114 ESD HBM mode2KV85% for normal LED, 8KV100% for LED with zener供參考0/2011硫滲透試驗SP將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75烤箱中儲存4h,8h,12h,供參考0/1012熱阻測試TRJESD51-14供參考0/26.2.9 可靠性測試項目、判定標(biāo)準(zhǔn)不是一成不變的，應(yīng)適應(yīng)項目的實

24、際情況，以符合客戶要求為第一準(zhǔn)則。研發(fā)工程師、物料工程師、品質(zhì)工程師可以根據(jù)項目的實際情況（如客戶特殊要求，特殊的加速實驗條件等），設(shè)計特殊的測試項目，也可以根據(jù)實際需要申請延長測試時間； 6.2.10 常規(guī)實驗項目的作業(yè)方法參考環(huán)境實驗標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)規(guī)范、老化樣品制樣操作規(guī)范；6.2.11 硫滲透試驗（SP, sulfur penetrate test）：將1g硫磺粉末置于400ml容器底部，把LED放入容器內(nèi)，LED與硫粉不接觸，密閉容器，然后將整個容器放入75烤箱中儲存，每4h測試一次或按照委托單特殊要求，當(dāng)光通量維持率低于80%時，實驗停止。應(yīng)采取措施防止硫磺粉末、硫化試驗箱污染其它老化烤箱。從容器中取出LED后應(yīng)立即密閉容器。6.3 新產(chǎn)品、衍生產(chǎn)品可靠性測試項目（代表必做，代表選做）6.3.1 新產(chǎn)品在設(shè)計總結(jié)評審?fù)瓿?，即設(shè)計完成后，應(yīng)參考6.2或下表進(jìn)行驗證；6.3.2 衍生產(chǎn)品是在新產(chǎn)品開發(fā)初期有經(jīng)過全部信賴度驗證，且所用物料也經(jīng)過正式評估導(dǎo)入的合格物料。如果衍生產(chǎn)品